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楊氏雙縫干涉實驗 楊氏雙縫干涉衍射實驗是描述空間相干性在干涉條紋形成中所起到的作用的經典裝置。總體布局如下圖所示： 在觀察面上形成的條紋圖案取決于照亮縫隙面的光的空間相干性、雙縫之間分隔的距離以及從縫隙面到觀察面上的傳播距離。

本節介紹一個Fizeau干涉儀的模擬實例。干涉儀有多種類型，這里介紹的Fizeau干涉儀是一種干涉儀，廣泛用于測量光學元件和透射波面的表面精度。 這里我們介紹一個使用Fizeau干涉儀來測量透鏡的透射波面變形的例子。以下是被測試的系統。 使用一個有效直徑為50毫米、焦距為578毫米的平凸透鏡。為了表示不對稱的像差，用Zernike條紋相位面來增加像散和慧差像差。

要了解有關如何對基本系統，邁克森干涉儀進行建模並演示實現深度掃描的相干門效應的更多信息，Zemax客戶可以在MyZemax.com上取得此知識庫文章的全部內容以及整個系列文章。 或請聯繫Zemax銷售團隊以了解有關OpticStudio的更多訊息。

有關使用坐標間斷的進一步討論，請查看文章：ZEMAX | 如何傾斜和偏心序列光學元件。 基于此，在將測得的干涉儀數據附加到 OpticStudio 中的表面之前，需要執行以下準備步驟，具體取決于表面是反射的還是折射的，以及它是折射元件的前（左）還是后（右）表面。

在第一部分文章：《Ansys Zemax | 在 OpticStudio 中將干涉儀數據附加到光學表面 – 第一部分中》，我們演示了如何根據表面形狀和方向將干涉測量數據導入 OpticStudio，本部分文章我們將引入更多的實例演示。

有關使用坐標間斷的進一步討論，請查看文章：ZEMAX | 如何傾斜和偏心序列光學元件。基于此，在將測得的干涉儀數據附加到 OpticStudio 中的表面之前，需要執行以下準備步驟，具體取決于表面是反射的還是折射的，以及它是折射元件的前（左）還是后（右）表面。

楊氏雙縫干涉實驗楊氏雙縫干涉衍射實驗是描述空間相干性在干涉條紋形成中所起到的作用的經典裝置。總體布局如下圖所示： 在觀察面上形成的條紋圖案取決于照亮縫隙面的光的空間相干性、雙縫之間分隔的距離以及從縫隙面到觀察面上的傳播距離。

采樣 (Sampling)：用于探測干涉光線的網格采樣密度。追跡的實際樣本光線數是這里所示值的兩倍，因為兩個構造光束都需要光線網格采樣。 條紋縮放 (Fringe Scale)：當“ 繪制條紋頻率 ”啟用時此功能將會被禁用。當將設置為繪制干涉時，這個比例因子決定了每個繪制的干涉條紋的實際物理干涉條紋的數量。

全息圖是記錄在高分辨率感光乳劑上的干涉圖案。全息圖具有兩個特別的步驟：構造步驟和重建步驟，分別用于說明全息圖的構建及其作為光學元件的使用。在構建過程中，兩束相干光（稱為構造光）相互干涉，它們的干涉被記錄在感光板上。全息圖就是被繪制出來的干涉圖。它帶有干擾結構光束的特征。在重建步驟中，當被讀出光所照射時，它像衍射光柵一樣帶有衍射構造光的特性。

經過一番如魔術般建設性以及破壞性干涉後，最後的結果可以用巨觀的反射以及穿透係數來表示。入射光的電場並非用單一個點來描述，相對的，我們會假設該電場比多重光束干涉發生的區域更大許多。在Zemax OpticStudio中，我們使用field係數來表示這個結果，這些係數已經被薄膜膜層的程式驗證過許多次。

條紋的定義為在干涉圖中從暗中心延伸到暗中心。一個條紋對應于波長的二分之一。 以納米為單位指定表面誤差通常更清楚。以納米為單位的等效規格為： ISO 14999-4 中的澤尼克多項式 Zernike多項式在ISO 14999第4部分中定義：ISO 10110中規定了公差的解釋和評估。

（4）微透鏡陣列微透鏡陣列通過分割光束并疊加干涉，實現多模激光的均勻化輸出，其設計難點在于抑制干涉效應、提升能量利用率。李龐躍等人[5]為提高線陣半導體激光器的光束均勻性，滿足小型掃描成像系統的微型化需求，提出了一體化透鏡陣列光束整形系統設計方案。能量利用率達88.79%，均勻性94.51%。

因此，對準直度的測量也很重要，而剪切干涉法經常被用于此類任務中。 在此示例中，我們演示了如何構建剪切干涉儀并將其用于測量準直。 通過改變光束準直系統(例如該示例中兩個透鏡之間的距離)，我們觀察到了來自剪切干涉儀的干涉條紋。

增強現實系統和全息圖 全息圖是記錄在高分辨率感光乳劑上的干涉圖案。全息系統的使用中存在兩個不同的階段：構造階段和重構階段，分別適用于全息圖的構建和作為光學元件的使用。有關該主題的詳細內容，請參考文章：“如何在OpticStudio中建模全息圖”。 在普通的AR系統中，光通過全息圖耦合到波導中，從而將相關信息從顯示器傳輸到眼睛。波導的優點是它很大程度上是透明的，不會阻擋來自現實世界的光。

5.波前質量：光程差＜0.05波長光程差（OPD）反映不同路徑光線的相位一致性——OPD越小，相位越統一，可避免干涉條紋紊亂、成像模糊。結果顯示系統光程差＜0.05波長，波前函數的波峰-波谷差＜0.05波長，RMS值＜0.03波長。

進行 STOP 分析Ansys Lumerical | 米氏散射 FDTDAnsys Lumerical | 針對多模干涉耦合器的仿真設計與優化Ansys Zemax | 設計衍射光學元件（DOE）和超透鏡（metalens）Ansys Zemax | 如何設計單透鏡 第一部分：設置Ansys Zemax | HUD 設計實例Ansys Speos | 進行智能手機鏡頭雜散光分析

但是，如果無法提供 Zemax 黑匣子文件，則可以使用以下過程。澤尼克相位數據 如果您想在不透露處方數據的情況下將像差數據分發給客戶，則可以由 OpticStudio 生成這些 Zernike 相位系數，或者如果您正在測量沒有處方數據的鏡頭，則可以通過干涉儀生成。

因此，對準直度的測量也很重要，而剪切干涉法經常被用于此類任務中。 在此示例中，我們演示了如何構建剪切干涉儀并將其用于測量準直。 通過改變光束準直系統(例如該示例中兩個透鏡之間的距離)，我們觀察到了來自剪切干涉儀的干涉條紋。

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不過，若無法提供 Zemax 黑匣子文件，可參考并執行以下操作流程。Zernike 相位數據如果您想在不透露處方數據的情況下將像差數據分發給客戶，則可以由 OpticStudio 生成這些 Zernike 相位系數，或者如果您正在測量沒有處方數據的鏡頭，則可以通過干涉儀生成。